< Nebula Mobile Phone & Digital Product Lithium Battery Pack Test System >

携帯電話およびデジタル製品の最終製品/半製品の基本および保護特性試験に適用されるパック総合試験システムであり、保護 IC (I2C、SMBus、HDQ 通信プロトコルをサポート) ）。

試験体系は、主に基本性能試験と保護性能試験で構成されています。基本性能試験には、開回路電圧試験、負荷電圧試験、動的負荷試験、バッテリー内部抵抗試験、熱抵抗試験、ID 抵抗試験、通常充電電圧試験、通常放電電圧試験、静電容量試験、漏れ電流試験が含まれます。保護性能テストには、充電過電流保護テストが含まれます。充電過電流保護機能、遅延時間保護および回復機能テストです。放電過電流保護試験：放電過電流保護機能、遅延時間保護および回復機能試験。短絡保護テスト。

テスト システムには次のような特徴があります。独立した単一チャネルのモジュラー設計とデータ レポート機能。各パックのテスト速度を向上させるだけでなく、保守も容易です。パックの保護状態をテストしている間、テスターは対応するシステム状態に切り替える必要があります。テスターはリレーを使用する代わりに、高消費電力のMOS無接点スイッチを採用し、テスターの信頼性を高めています。また、テスト データはサーバー側にアップロードできます。これは、制御が容易で、セキュリティが高く、紛失しにくいものです。テストシステムは、「ローカルデータベース」ストレージテストシステムのテスト結果だけでなく、「サーバーリモートストレージ」モードも提供します。データベース内のすべてのテスト結果をエクスポートできるため、取り扱いが簡単です。テスト結果の「データ統計機能」により、PCMケースごとの「テストプロジェクトごとの不合格率」や「テストグロス」を分析することができます。